使用可編程電源進(jìn)行老化測試時(shí)，電源的保持時(shí)間（即測試持續(xù)時(shí)間）并非固定值，而是需根據(jù)被測設(shè)備（DUT）的特性、測試目的、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)以及實(shí)際應(yīng)用場景綜合確定。以下是具體分析：

一、影響老化測試時(shí)間的因素

1. 被測設(shè)備特性：
   • 元件類型：不同元件（如電容、電阻、半導(dǎo)體器件）的老化速率不同。例如，電解電容在高溫下可能數(shù)小時(shí)即出現(xiàn)性能衰減，而固態(tài)元件可能需要更長時(shí)間。
   • 復(fù)雜度：復(fù)雜系統(tǒng)（如集成電路、電源模塊）可能包含多種元件，需更長測試時(shí)間以覆蓋所有潛在失效模式。
   • 預(yù)期壽命：若設(shè)備設(shè)計(jì)壽命為10年，老化測試需模擬長期使用，時(shí)間可能長達(dá)數(shù)百至數(shù)千小時(shí)。
2. 測試目的：
   • 快速篩選：在生產(chǎn)線上，可能通過短時(shí)間（如數(shù)小時(shí)）的高應(yīng)力測試（如高溫、高電壓）加速老化，快速剔除早期失效產(chǎn)品。
   • 可靠性驗(yàn)證：需長時(shí)間（如數(shù)百小時(shí)）測試以驗(yàn)證設(shè)備在額定條件下的穩(wěn)定性。
   • 故障分析：針對(duì)已知問題，可能針對(duì)性地延長測試時(shí)間以復(fù)現(xiàn)故障。
3. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：
   • 軍用標(biāo)準(zhǔn)：如MIL-STD-810G可能要求數(shù)千小時(shí)的老化測試。
   • 民用標(biāo)準(zhǔn)：如IEC 60068-2-2（高溫試驗(yàn)）可能規(guī)定16、72或168小時(shí)等不同等級(jí)。
   • 行業(yè)規(guī)范：汽車電子（AEC-Q100）、航空航天（DO-160）等均有特定要求。
4. 實(shí)際應(yīng)用場景：
   • 連續(xù)運(yùn)行設(shè)備：如服務(wù)器、通信基站，需模擬數(shù)年不間斷運(yùn)行，測試時(shí)間可能長達(dá)數(shù)千小時(shí)。
   • 間歇運(yùn)行設(shè)備：如家用電器，測試時(shí)間可適當(dāng)縮短。

二、常見老化測試時(shí)間范圍

三、確定測試時(shí)間的實(shí)踐建議

1. 參考行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：優(yōu)先遵循設(shè)備所屬行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)（如IEC、MIL、AEC等），確保測試合規(guī)性。
2. 結(jié)合加速老化模型：使用阿倫尼斯模型（Arrhenius Model）或其他加速老化理論，通過提高溫度、電壓等應(yīng)力縮短測試時(shí)間。例如，溫度每升高10℃，失效速率可能翻倍。
3. 分階段測試：
   • 初期測試：短時(shí)間（如24小時(shí)）驗(yàn)證設(shè)備基本功能。
   • 中期測試：中等時(shí)間（如168小時(shí)）觀察性能衰減趨勢。
   • 長期測試：長時(shí)間（如500小時(shí)以上）驗(yàn)證極限可靠性。
4. 實(shí)時(shí)監(jiān)測與調(diào)整：在測試過程中監(jiān)測關(guān)鍵參數(shù)（如電壓、電流、溫度），若發(fā)現(xiàn)異?？商崆敖K止或延長測試。

四、示例場景

• 消費(fèi)電子電源適配器：
  • 測試目的：快速篩選生產(chǎn)缺陷。
  • 測試條件：85℃環(huán)境溫度，額定負(fù)載，110%輸入電壓。
  • 測試時(shí)間：48小時(shí)（覆蓋99%的早期失效）。
• 工業(yè)級(jí)電源模塊：
  • 測試目的：驗(yàn)證10年設(shè)計(jì)壽命。
  • 測試條件：60℃環(huán)境溫度，額定負(fù)載，使用阿倫尼斯模型加速。
  • 測試時(shí)間：500小時(shí)（等效于10年實(shí)際使用）。