校準項目：包括外觀及工作正常性檢查、參考晶體振蕩器頻率、信號發(fā)生模塊（射頻輸出頻率、射頻輸出電平、諧波、非諧波、單邊帶相位噪聲、數字調制質量、占用帶寬、鄰道功率比、頻譜發(fā)射模板）、信號分析模塊（射頻功率測量、數字調制質量參數測量、占用帶寬測量、鄰道功率比測量、頻譜發(fā)射模板測量）和射頻端口（電壓駐波比）等。
校準條件：確保環(huán)境溫度在23℃±5℃，相對濕度≤80%，供電電源穩(wěn)定，并避免電磁干擾和機械振動。
校準用設備：使用參考頻標、頻率計數器、功率計、矢量信號發(fā)生器、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、測量接收機、矢量信號分析儀和網絡分析儀等專業(yè)設備進行校準。
校準方法：采用連續(xù)波組合法或白噪聲法進行數字調制質量參數測量；使用功率計或測量接收機直接測量射頻輸出電平；利用矢量信號分析儀直接測量誤差矢量幅度等。
校準結果表達：校準后，出具包含實驗室信息、被校對象描述、校準日期、依據規(guī)范、測量標準溯源性、環(huán)境描述、校準結果及不確定度說明等內容的校準證書。
復校時間間隔：推薦為1年，但用戶可根據使用情況自行確定復校時間間隔24。
不確定度評定：對射頻輸出頻率、射頻輸出電平、誤差矢量幅度和射頻功率測量等項目進行不確定度評定，確保校準結果的準確性和可靠性。
