外觀檢查:對儀器進行外觀檢查,確保沒有明顯的損傷或缺陷。
自檢:利用儀器的自檢功能進行初步檢查,確保所有組件正常工作。
環(huán)境條件設(shè)置:確保校準環(huán)境符合制造商規(guī)定的溫度、濕度等條件。
參考晶體振蕩器校準:
射頻信號發(fā)生器校準:
調(diào)制質(zhì)量校準:對于數(shù)字調(diào)制信號,校準誤差矢量幅度(EVM)等調(diào)制質(zhì)量參數(shù)。
占用帶寬和鄰道功率比校準:校準信號的占用帶寬和鄰道功率比,確保信號滿足規(guī)范要求。
頻譜發(fā)射模板校準:校準信號的頻譜發(fā)射模板,確保信號在頻域內(nèi)的分布符合標準。
射頻功率測量校準:校準功率測量的準確性,確保功率讀數(shù)準確。
輸入輸出端口電壓駐波比校準:校準端口的電壓駐波比,確保信號傳輸?shù)耐暾浴?/p>
使用標準設(shè)備進行校準:使用已知性能的標準設(shè)備(如頻率計數(shù)器、功率計等)進行校準。
數(shù)據(jù)記錄和分析:記錄校準過程中的所有數(shù)據(jù),并進行不確定度分析。
校準結(jié)果驗證:通過對比校準前后的測量結(jié)果,驗證校準的有效性。
校準證書和記錄:生成校準證書和記錄,記錄校準的詳細信息和結(jié)果。
定期復(fù)校:根據(jù)制造商的建議和使用情況,制定并遵循定期復(fù)校的時間間隔。