Keysight Technologies，Inc。（NYSE：KEYS）開發(fā)了一種光學(xué)隔離的差異探測，致力于提高快速轉(zhuǎn)換設(shè)備（例如寬帶蓋式GAN和SIC半導(dǎo)體）的效率和性能測試。新的電壓探針將在Keysight的展位（＃829）以及Keysight的MXR B和HD3系列示波器中顯示在Applied Power電子會議（APEC）2025中。

　　在電力轉(zhuǎn)換，電動機和逆變器中常用的浮動半橋和全橋體系結(jié)構(gòu)的驗證需要測量乘坐高公共模式電壓上的小差分信號。由于電壓源的波動相對于地面，噪聲干擾和安全問題，因此該測量值可能具有挑戰(zhàn)性。孤立的微分探針是循環(huán)隔離的，并拒絕共同模式電壓，使電力電子工程師能夠在高壓，嘈雜的環(huán)境中準(zhǔn)確，安全地測量浮動電路。這項技術(shù)將推動高壓應(yīng)用（例如電動汽車（EV），太陽能，電池管理系統(tǒng)等）的效率和切換損失測試的進(jìn)度。

　　Keysight的孤立差分探針的共同模式排斥比標(biāo)準(zhǔn)差分探針高出100億倍，這使其非常適合高壓高壓，高方面的測量值。這些探針具有高達(dá)1 GHz的帶寬和±2,500 V差分電壓范圍，可以準(zhǔn)確分析快速切換的GAN和SIC設(shè)備。

　　Robert Saponas, Vice President and General Manager of Keysight's Digital and Photonics Center of Excellence, said:“Keysight recognizes the future of power integrated circuits going beyond Moore's law, and we are committed to equipping our customers with the best power testing technology for their next breakthrough. Introducing Keysight's isolated probes expands our suite of power solutions that streamline our customer's power integrity, supply, and efficiency testing workflow。